2026年10月14日至16日，2026湾区半导体产业生态博览会（湾芯展）在深圳会展中心（福田）举办。深圳镭赫技术有限公司（Planck Semicon）亮相8F35展位，围绕半导体缺陷检测与精密量测，展示产品方案，并与到访观众进行面对面交流。
本届湾芯展覆盖晶圆制造、化合物半导体、先进封装及IC设计／AI基础设施等领域，为产业链企业提供技术展示与供需交流的平台。镭赫技术借此机会，向行业伙伴介绍面向不同材料、结构与工艺环节的检测和量测思路。
在展位现场，镭赫技术通过产品画面、方案展板与产品手册，呈现晶圆缺陷检测、晶边检测与量测等方向的产品布局。MUSHI系列覆盖晶圆边缘缺陷检测与轮廓量测，ACONCA系列面向图形晶圆的自动光学检测，帮助工程团队从不同角度观察与评估工艺状态。
除设备方案外，现场还展示了PlanckADC智能缺陷分类与良率管理平台。从检测数据、自动分类到统计分析与结果追踪，镭赫技术关注的不仅是发现缺陷，也包括如何让检测结果成为能够复核、分析和持续追踪的工艺信息。
参展期间，镭赫技术团队与到访观众结合产品资料开展交流，介绍产品功能与应用方向。对于检测和量测需求，材料类型、关注缺陷、量测参数以及产线条件都会影响方案选择。面对面的沟通，让产品介绍能够进一步对应到具体的应用问题。
感谢莅临镭赫技术展位的客户、合作伙伴与行业同仁。镭赫技术将继续围绕半导体制造与先进封装中的检测和量测需求，推进产品研发与应用交流，为工程团队提供更有依据的工艺判断。
